• 锥孔膜厚计 518-USB 1
  • 锥孔膜厚计 518-USB 2

锥孔膜厚计 518-USB

● 錐孔膜厚計其原理如同破壞式膜厚計
● 以高扭力馬達操作固有極高的重製性
● 外接顯影，觀測更輕鬆
● 符合ASTM, ISO, DIN, NFT.
型号 : 518-USB
● 測量範圍:3~300µm 
● 解析度3µm 鑽孔之直徑為6mm 
● 符合ASTM D 4138, ASTM D 5796,
EN ISO 2808, DIN 50986, NFT 30123.
● 錐孔膜厚計其原理如同破壞式膜厚計 
● 以高扭力馬達操作固有極高的重製性 
● 外接顯影，觀測更輕鬆
● 符合ASTM, ISO, DIN, NFT.

相关产品

笔型膜厚计 smar test

笔型膜厚计 smar test

超音波膜厚计 QuintSonic

超音波膜厚计 QuintSonic

MIKRO 膜厚计

MIKRO 膜厚计

Minitest 膜厚计 4100

Minitest 膜厚计 4100

薄材测量器 497

薄材测量器 497

LayerCheck 膜厚计 700

LayerCheck 膜厚计 700

此网站使用cookies搜集必要的使用者浏览行为，以让我们能为您提供更好的浏览体验。浏览本网站，即表示您同意 线上隐私权声明